光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試

簡要描述：光焱科技光譜響應測試系統IPCE量子效率測試QE-R系統可以測試晶硅電池（Si），非晶硅電池（a-Si），多結電池（Tandem），染料敏化電池（DSSC），有機電池（OPV），銅銦鎵硒（CIGS），聚光電池（HCPV）等各種太陽能電池。

產品型號： QE-R

所屬分類：光焱量子效率測量系統

更新時間：2023-08-03

廠商性質：經銷商

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詳情介紹

品牌	其他品牌	應用領域	醫療衛生,化工,生物產業,能源,電子/電池
測量模式	交流	Dark?box	600mm?x?600mm?x?600mm

QE-R光譜響應測試系統產品特色:

特制高效率集光系統設計，高達70 %以上的集光，有效提高訊號強度，使量測更快更穩定。
配備兩部鎖相放大器，同時達到即時監控光強與訊號量測，提供較準確的量測結果。
整合電腦自動控制訊號切換器，可降低維修及耗材成本。
采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩定度高及掃描快速。
光源穩定，可長時間持續測試，縮短實驗校正時間。
數據重復性高達99.5 %。
適用于量測各種材料之太陽能電池。

※以QE-R量測三節電池的EQE

※以QE-R比較不同結構之HIT電池

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QE-R光譜響應測試系統產品特色:

特制高效率集光系統設計，高達70 %以上的集光，有效提高訊號強度，使量測更快更穩定。
配備兩部鎖相放大器，同時達到即時監控光強與訊號量測，提供較準確的量測結果。
整合電腦自動控制訊號切換器，可降低維修及耗材成本。
采用原裝多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，穩定度高及掃描快速。
光源穩定，可長時間持續測試，縮短實驗校正時間。
數據重復性高達99.5 %。
適用于量測各種材料之太陽能電池。

※以QE-R量測三節電池的EQE

※以QE-R比較不同結構之HIT電池


※以QE-R量測硅基三節電池結構的EQE	※QE-R量測太陽能電池的差異性小

QE-R光譜響應測試系統系統說明:

QE-R標準系統即具備IEC 60904-1、60904-7、60904-8要求之所有功能:

依據IEC 60904-8規范設計，可校正、量測光譜響應 / 量子效率。
采用德國Fraunhofer ISE同等級之白光偏光源，光源強度可達0~3個太陽光常數。
具備自動電壓偏壓功能，將電池穩定的維持在短路條件，在測試量測光譜響應 / 量子效率時無須再外接一個電源供應器，省去接線錯誤的麻煩。
量測太陽能電池材料能隙，提供客戶重要材料參數。
光譜不合致度因子(Spectral Mismatch Factor)計算，提供用戶較重要的修正參數。
全光譜短路電流密度計算(auto interlace演算)，可提供較準確的計算結果。
短路電流密度光譜，提供客戶作為材料分析、制程改進之關鍵資訊。
內部量子效率計算功能，客戶可自行輸入反射率，計算內部量子效率。

高效率集光系統，集光效果 > 70 %，較傳統透鏡集光系統高于一個數量級以上的光強度，提供系統*訊噪比與量測的準確性。
Czerny-Turner多光柵單光儀，低雜散光 < 10-5，高穩定度、掃描快速，光譜范圍可達200 nm ~2000 nm。
雙光束光路設計:

同NIM、NIST、PTB國際一級校驗單位相同光路設計。
量測樣品光電流訊號同時監控光強變化，確保量測的高度準確性。

訊號多工器，整合電腦自動控制訊號切換器，避免拉拔訊號線接頭所造成之損壞，降低維修及耗材成本。
優異的信噪比，可達100 dB是整體系統優化的結果，客戶無須再閱讀一般鎖相放大器厚重的操作手冊，無須自行優化量測時的設定參數，避免人為操作的困擾與錯誤。
直流量測模式，客戶無須再拆裝任何硬體設備，直接將多功電表，模組化整合到系統內部，大幅簡化硬體空間與拆裝的不便性。
高均勻度參考偵測器(Reference detector)。

QE-R光譜響應測試系統系?規格

項目	規格
儀器大小	600(W) x 600(D) x 610(H)mm集成系統,不含作業計算機
重量	主體:80kg
量測模式	交流量測模式
量測波長	300nm~1100nm ,可擴展到2000nm
光班大小	2 x 2 m2或1 x 4 m2(可客制)
整合型光源系統	150WXQ光源系統（或75W Xe燈光源），光源不穩定度<0.1%，可提供300nm~2000nm連續光源高效率橢圓集光鏡系統，具備三軸調整旋鈕燈源定時器
單光儀	Czerny-Turner多光柵單光儀 0.1nm波長解析，掃描范圍 200nm~2000nm
自動濾鏡轉輪	可裝載6片雜散光濾鏡可手動/計算機控制，具LED顯示
斬波器	4Hz~500Hz，計算機頻率控制
雙鎖相放大器	兩部DSP dual-phase鎖相放大器整合于系統內，可同時擷取雙光束測試訊號
校正探測器	Si偵測器，10x10m2 有效面積內不均勻度<0.5% 偵測能力200nm~1100nm 附300nm~1100nm光譜回應追溯校驗報告
訊號切換多任務器	4對1計算機控制訊號切換多任務器
計算機系統	PC,LCD,Windows操作系統(需自備計算機桌)
軟件	EQE/SR量測控制軟件光強度校正多圖儲存與編輯能系分析功能自動切換參考偵測器與待測電池之訊號樣品訊號狀態顯示內部量子效率計算(客戶輸入反射率) 全光譜短路電路密度計算(自動交錯算法) 短路電流密度光譜光譜不含致度因子計算軟件(自動交錯算法)
電力需求	可選110V或220V AC單相，<1KVA
操作環境	溫度:20 ℃~40 ℃，濕度:20%~80%
光強監控模塊	300nm~1100nm，雙光束量測
偏壓電壓	0V~±5V

QE-R光譜響應測試系統選購功能

項目	規格
雙光源系統	Xe + QTH 雙光源系統，含兩組高效率橢圓集光燈系統，計算機控制電源切換 700 (W) x 700 (D) x800(H) 集成外箱(選購雙光源后的材積)
偏置光源	150 W 白光偏光光源
全自動多接面量測套件	可量測: aa-si; au-si double-junction; aau-si; auu-si; aug-si triple-junction; III-V double-junction and triple-junction; OPV double-junction
內部量子效率量測模塊	2"積分球硅偵測器，波長范圍 300 nm~ 1100 nm 積分球切換機構反射率 / IQE 量測軟件
穿透率量測模塊	穿透率量測偵測器，si 300 nm ~ 1100 nm 穿透率量測軟件量測樣品臺，樣品大小 max. 20 x 20 x 3mm3?(min. 10 x 10 x 1 mm3)
長波長擴充套件	Ge 鍺參考偵測器，900 nm ~ 1800 nm 含校正報告 InGaAs 參考偵測器，1000 nm ~ 2000 nm 含校正報告
UPS	Online UPS > 1.5 KVA
Mapping	XY自動平臺，200 nm x 200 nm行程，2.5 um resolution Mapping量測軟件任意波長QE掃描等功能自動光強校正 / 樣品量測 / 位置調整
其他	直流量測模式、客制化樣品臺、數字影像顯微鏡下針監控系統、反射率內部量子效率量測、吸收光譜量測(需選購反射率及穿透率套件)、系統使用效益統計分析、制成改進分析功能、供電系統分析、光束引致電流空間掃描3D掃描量測與分析、多點EQE自動量測

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